Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software Vulnerability Discovery Process : Concepts and Applications için kapak resmi
Software Vulnerability Discovery Process : Concepts and Applications
Yazar 
Anand, Adarsh, author. Bhatt, Navneet, author. Alhazmi, Omar H., editor.
Yer Numarası 
QA76.9 .A25
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9788770046176
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Social networks : modeling and analysis için kapak resmi
Social networks : modeling and analysis
Yazar 
Aggrawal, Niyati, author. Anand, Adarsh, author.
Yer Numarası 
HM742
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003088066
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Predictive Analytics in System Reliability için kapak resmi
Predictive Analytics in System Reliability
Yazar 
Kumar, Vijay. editor. Pham, Hoang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-05347-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: