Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Vulnerability in technological cultures : new directions in research and governance için kapak resmi
Vulnerability in technological cultures : new directions in research and governance
Yazar 
Bijker, Wiebe E, editor of compilation. Hommels, Anique, editor of compilation. Mesman, Jessica, 1962-, editor of compilation. IEEE Xplore (Online Service), distributor. MIT Press, publisher.
Yer Numarası 
ONLINE(364958.1)
Elektronik Erişim 
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6783518
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The social construction of technological systems new directions in the sociology and history of technology için kapak resmi
The social construction of technological systems new directions in the sociology and history of technology
Yazar 
Pinch, T. J. (Trevor J.) Hughes, Thomas Parke. Bijker, Wiebe E. Project Muse.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Full text available:
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Past, Present and Future of Research in the Information Society için kapak resmi
Past, Present and Future of Research in the Information Society
Yazar 
Shrum, Wesley. editor. Benson, Keith R. editor. Bijker, Wiebe E. editor. Brunnstein, Klaus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-47650-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: