Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Bayesian process monitoring, control and optimization için kapak resmi
Bayesian process monitoring, control and optimization
Yazar 
Colosimo, Bianca M. Del Castillo, Enrique.
Yer Numarası 
TS156.8 .B39 2007
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Geometric Tolerances Impact on Product Design, Quality Inspection and Statistical Process Monitoring için kapak resmi
Geometric Tolerances Impact on Product Design, Quality Inspection and Statistical Process Monitoring
Yazar 
Colosimo, Bianca M. editor. Senin, Nicola. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84996-311-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: