Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Semiconductor strain metrology principles and applications için kapak resmi
Semiconductor strain metrology principles and applications
Yazar 
Wong, Terence K. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
CVD of compound semiconductors precursor synthesis, development and applications için kapak resmi
CVD of compound semiconductors precursor synthesis, development and applications
Yazar 
Jones, Anthony C. O'Brien, Paul (University lecturer) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527614639
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: