Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
17 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Internet of Things, Smart Spaces, and Next Generation Networks and Systems 22nd International Conference, NEW2AN 2022, Tashkent, Uzbekistan, December 15-16, 2022, Proceedings için kapak resmi
Internet of Things, Smart Spaces, and Next Generation Networks and Systems 22nd International Conference, NEW2AN 2022, Tashkent, Uzbekistan, December 15-16, 2022, Proceedings
Yazar 
Koucheryavy, Yevgeni. editor. (orcid) Aziz, Ahmed. editor. (orcid) SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(520839.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-30258-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computer system reliability safety and usability için kapak resmi
Computer system reliability safety and usability
Yazar 
Dhillon, B. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Secure and resilient software requirements, test cases, and testing methods için kapak resmi
Secure and resilient software requirements, test cases, and testing methods
Yazar 
Merkow, Mark S. Raghavan, Lakshmikanth.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Applied software measurement global analysis of productivity and quality için kapak resmi
Applied software measurement global analysis of productivity and quality
Yazar 
Jones, Capers.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Model-Based Requirements Engineering için kapak resmi
Model-Based Requirements Engineering
Yazar 
Holt, Jon Perry, Simon A Brownsword, Mike
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBPC009E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Secure and resilient software development için kapak resmi
Secure and resilient software development
Yazar 
Merkow, Mark S. Raghavan, Lakshmikanth.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Systems and software engineering with applications için kapak resmi
Systems and software engineering with applications
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769539
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769539
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Software error detection through testing and analysis için kapak resmi
Software error detection through testing and analysis
Yazar 
Huang, J. C., 1935-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=456102
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470464076
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=227967&ref=toc
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10332960
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=456102
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Tutorial on hardware and software reliability, maintainability, and availability için kapak resmi
Tutorial on hardware and software reliability, maintainability, and availability
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769540
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769540
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Using aspect-oriented programming for trustworthy software development için kapak resmi
Using aspect-oriented programming for trustworthy software development
Yazar 
Safonov, V. O. (Vladimir Olegovich)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=26061
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470283110
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=138149&ref=toc
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0829/2007041615-b.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Trustworthy computing analytical and quantitative engineering evaluation için kapak resmi
Trustworthy computing analytical and quantitative engineering evaluation
Yazar 
Sahinoglu, Mehmet, 1951- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0739/2006033567-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470127872
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: