Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Body of Knowledge for Modeling and Simulation A Handbook by the Society for Modeling and Simulation International için kapak resmi
Body of Knowledge for Modeling and Simulation A Handbook by the Society for Modeling and Simulation International
Yazar 
Ören, Tuncer. editor. Zeigler, Bernard P. editor. Tolk, Andreas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-11085-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Functional safety for embedded systems için kapak resmi
Functional safety for embedded systems
Yazar 
Xie, Guoqi, 1983- author. Zhang, Yawen, author. Li, Renfa, author. Li, Kenli, author. Li, Keqin, 1963- author.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003391517
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set için kapak resmi
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set
Yazar 
Dorf, Richard C., editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
R857 .B54
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Computer system reliability : safety and usability için kapak resmi
Computer system reliability : safety and usability
Yazar 
Dhillon, B. S., author.
Yer Numarası 
QA76.76 .R44 D495 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Tutorial on hardware and software reliability, maintainability, and availability için kapak resmi
Tutorial on hardware and software reliability, maintainability, and availability
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769540
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769540
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
System reliability : concepts and applications için kapak resmi
System reliability : concepts and applications
Yazar 
Klaassen, Klaas B., 1941- Peppen, Jack C. L. van.
Yer Numarası 
QA76.5 K53 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
7. 
High availability guide to DB2 için kapak resmi
High availability guide to DB2
Yazar 
Eaton, Chris. Cialini, Enzo.
Yer Numarası 
QA76.9 E28 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
8. 
SafeWare : system safety and computers için kapak resmi
SafeWare : system safety and computers
Yazar 
Leveson, Nancy.
Yer Numarası 
QA 76.76.R44 L48 1995
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: