Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Recent Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2021 için kapak resmi
Recent Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2021
Yazar 
Yadav, Sanjay. editor. Chaudhary, K.P. editor. Gahlot, Ajay. editor. Arya, Yogendra. editor. Dahiya, Aman. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-2468-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Machine intelligence, big data analytics, and IoT in image processing : practical applications için kapak resmi
Machine intelligence, big data analytics, and IoT in image processing : practical applications
Yer Numarası 
Q325.5 .M33 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119865513
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: