Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Run-to-run control in semiconductor manufacturing için kapak resmi
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
Yazar 
Del Castillo, Enrique. Hurwitz, Arnon Max. Moyne, James.
Yer Numarası 
TK7871.85 .R863 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Process Optimization A Statistical Approach için kapak resmi
Process Optimization A Statistical Approach
Yazar 
Castillo, Enrique Del. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71435-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Bayesian process monitoring, control and optimization için kapak resmi
Bayesian process monitoring, control and optimization
Yazar 
Colosimo, Bianca M. Del Castillo, Enrique.
Yer Numarası 
TS156.8 .B39 2007
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: