Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Process Optimization A Statistical Approach için kapak resmi
Process Optimization A Statistical Approach
Yazar 
Castillo, Enrique Del. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71435-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Bayesian process monitoring, control and optimization için kapak resmi
Bayesian process monitoring, control and optimization
Yazar 
Colosimo, Bianca M. Del Castillo, Enrique.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Run-to-run control in semiconductor manufacturing için kapak resmi
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
Yazar 
Moyne, James. Del Castillo, Enrique. Hurwitz, Arnon Max.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: