Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electric measurements.
(15)
Electric currents.
(3)
Electric meters.
(3)
Electronic books.
(3)
Electronic measurements.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
20 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Instruments and measurements chemical analysis, electric quantities, nucleonics and process control için kapak resmi
Instruments and measurements chemical analysis, electric quantities, nucleonics and process control
Yazar 
Koch, Helge von, 1925-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123956064
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Critical Information Infrastructures Security 17th International Conference, CRITIS 2022, Munich, Germany, September 14-16, 2022, Revised Selected Papers için kapak resmi
Critical Information Infrastructures Security 17th International Conference, CRITIS 2022, Munich, Germany, September 14-16, 2022, Revised Selected Papers
Yazar 
Hämmerli, Bernhard. editor. (orcid) Helmbrecht, Udo. editor. Hommel, Wolfgang. editor. Kunczik, Leonhard. editor. Pickl, Stefan. editor.
Yer Numarası 
XX(520990.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-35190-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Elektrik-elektronik ölçmeleri ve iş güvenliği : Meslek yüksek okulları, teknik eğitim ve mühendislik fakülteleri, elektrik, elektronik ve haberleşme bölümleri için için kapak resmi
Elektrik-elektronik ölçmeleri ve iş güvenliği : Meslek yüksek okulları, teknik eğitim ve mühendislik fakülteleri, elektrik, elektronik ve haberleşme bölümleri için
Yazar 
Nacar, Mahmut
Yer Numarası 
TK275 N33 2015
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Electromagnetic Measurements in the Near Field için kapak resmi
Electromagnetic Measurements in the Near Field
Yazar 
Bienkowski, Pawel Duffy, Alastair, ed. Trzaska, Hubert
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/SBEW042E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Coaxial Electrical Circuits for Interference-Free Measurements için kapak resmi
Coaxial Electrical Circuits for Interference-Free Measurements
Yazar 
Awan, Shakil Kibble, Bryan Schurr, J�rg
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBEL013E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Elektronik laboratuvarı deneyleri için kapak resmi
Elektronik laboratuvarı deneyleri
Yazar 
Morgül, Avni.
Yer Numarası 
TK275 M67 2009
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Electrical measurements and measuring instruments için kapak resmi
Electrical measurements and measuring instruments
Yazar 
Rajput, R. K.
Yer Numarası 
TK275 R161 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Principles of electrical measurement için kapak resmi
Principles of electrical measurement
Yazar 
Tuma?ski, S?awomir.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Ölçüler birimler ve tablolar için kapak resmi
Ölçüler birimler ve tablolar
Yazar 
Melek, Suat.
Yer Numarası 
QC 82 M45 2005
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
10. 
Electrical measurement, signal processing, and displays için kapak resmi
Electrical measurement, signal processing, and displays
Yazar 
Webster, John G., 1932-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Voltage references from diodes to precision high-order bandgap circuits için kapak resmi
Voltage references from diodes to precision high-order bandgap circuits
Yazar 
Rincón-Mora, Gabriel A. (Gabriel Alfonso)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5270959
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
High Voltage Engineering and Testing için kapak resmi
High Voltage Engineering and Testing
Yazar 
Ryan, Hugh M., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBPO032E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: