Search Results for Electronic circuits--Testing.

|

Kütüphane Hesabım

|

|

|

Remember to clear the cache and close the browser window.

Search Limit

Rooms Restriction Values

8

Search Field

Target Value

Limit Value

Restriction Value

Arama:

Gelişmiş Arama

Arama Sonuçlarını Sınırlandır

Yazar

Agrawal, Vishwani D., 1943-

(1)

Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950-

(1)

Foster, Harry, 1956-

(1)

Franca, J., ed.

(1)

Gizopoulos, Dimitris.

(1)

Maloberti, F., ed.

(1)

Mang, Theo. editor.

(1)

Mohindru, Pooja.

(1)

Perry, Douglas L.

(1)

Russell, Gordon, ed.

(1)

Soin, R. S., ed.

(1)

SpringerLink (Online service)

(1)

Taylor, Gaynor, ed.

(1)

Whitaker, Jerry C.

(1)

Tümünü genişlet

Dil

(8)

Yayın Yılı

-

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

Tümünü genişlet

Konu

Application-specific integrated circuits.

(2)

Digital integrated circuits.

(2)

Electronic circuits -- Testing.

(2)

Electronic circuits--Testing.

(2)

Linear integrated circuits.

(2)

Logic circuits--Computer-aided design.

(2)

(2)

Analog-to-digital converters.

(1)

Chemistry, Technical.

(1)

(1)

Corrosion and anti-corrosives.

(1)

(1)

(1)

Digital integrated circuits -- Testing.

(1)

(1)

Dijital entegre devreler -- Test.

(1)

Discrete cosine transforms.

(1)

Electronic circuits -- Computer simulation.

(1)

Electronic circuits -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Electronic circuits -- Testing -- Data processing.

(1)

Elektronik devreler -- Test etme.

(1)

Expert systems (Computer science).

(1)

Industrial Chemistry.

(1)

Integrated circuits -- Verification.

(1)

Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing.

(1)

Integrated circuits--Design and construction.

(1)

Integrated circuits--Testing.

(1)

Integrated circuits--Very large scale integration.

(1)

(1)

Materials science.

(1)

Operational amplifiers.

(1)

Signal processing.

(1)

Simulated annealing (Mathematics).

(1)

Switched capacitor filters.

(1)

TECHNOLOGY / Electronics / Circuits / General

(1)

TECHNOLOGY / Electronics / Circuits / Logic

(1)

TECHNOLOGY / Electronics / Microelectronics

(1)

Telecommunication.

(1)

(1)

İntegre Devreler -- Çok geniş kapsamlı integre devreler -- Test.

(1)

Tümünü genişlet

Materyal Türü

Shelf Location

Beytepe Genel Koleksiyon

CRC Ekitapları

Elektronik Kütüphane

Taylor Francis E-Kitap Koleksiyonu

Kütüphane

Beytepe Kütüphanesi

Çevrimiçi Kütüphane

{sortLabel}

	{facetName}	{results}

	{displayName}	{count}
{error}

Liste görünümüne geç

Küçük resim görünümüne geç

Eylem Seç

Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır

8 sonuç bulundu

Arama sonuçlarına abone ol

1

00000000DEFAULT_TR

Yazdır

Liste seç

Bunu varsayılan liste yap.

Öğeler başarıyla eklendi

Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.

One or more items could not be added because you are not logged in.

1.

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Yazar

Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-

Yer Numarası

TK7874.75 B87 2000

Format:

Durum

Beytepe Kütüphanesi~1

Rafta:
Kopya:

2.

Electronic circuit analysis using LTSpice XVII simulator : a practical guide for beginners. için kapak resmi

Electronic circuit analysis using LTSpice XVII simulator : a practical guide for beginners.

Electronic circuit analysis using LTSpice XVII simulator : a practical guide for beginners.

Yazar

Mohindru, Pooja.

Yer Numarası

TK7867 .M64 2021

Elektronik Erişim

Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003199489
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Encyclopedia of Lubricants and Lubrication için kapak resmi

Encyclopedia of Lubricants and Lubrication

Encyclopedia of Lubricants and Lubrication

Yazar

Mang, Theo. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-642-22647-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Applied formal verification için kapak resmi

Applied formal verification

Applied formal verification

Yazar

Perry, Douglas L. Foster, Harry, 1956-

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Subscription required

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Advances in electronic testing : challenges and methodologies için kapak resmi

Advances in electronic testing : challenges and methodologies

Advances in electronic testing : challenges and methodologies

Yazar

Gizopoulos, Dimitris.

Yer Numarası

TK7867 .A385 2006

Format:

Durum

Beytepe Kütüphanesi~1

Rafta:
Kopya:

6.

The electronics handbook için kapak resmi

The electronics handbook

The electronics handbook

Yazar

Whitaker, Jerry C.

Yer Numarası

TK7867 .E4244 2005

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi

Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI

Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI

Yazar

Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications için kapak resmi

Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications

Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications

Yazar

Soin, R. S., ed. Maloberti, F., ed. Franca, J., ed.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1049/PBCS003E

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

Eylem Seç

Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır

1

Copyright 2011 Sirsi Corporation - Enterprise Version 5.0.0.11