Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Yazar 
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası 
TK7874.75 B87 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied formal verification için kapak resmi
Applied formal verification
Yazar 
Perry, Douglas L. Foster, Harry, 1956-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Advances in electronic testing : challenges and methodologies için kapak resmi
Advances in electronic testing : challenges and methodologies
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris.
Yer Numarası 
TK7867 .A385 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI
Yazar 
Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications için kapak resmi
Analogue-digital ASICs Circuit techniques, design tools and applications
Yazar 
Soin, R. S., ed. Maloberti, F., ed. Franca, J., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS003E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: