Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software Test Attacks to Break Mobile and Embedded Devices. için kapak resmi
Software Test Attacks to Break Mobile and Embedded Devices.
Yazar 
Hagar, Jon Duncan, author. CRC Press LLC.
Yer Numarası 
QA76.9 .A25 H343 2017
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429071911
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Hardware Security and Trust Design and Deployment of Integrated Circuits in a Threatened Environment için kapak resmi
Hardware Security and Trust Design and Deployment of Integrated Circuits in a Threatened Environment
Yazar 
Sklavos, Nicolas. editor. Chaves, Ricardo. editor. Di Natale, Giorgio. editor. Regazzoni, Francesco. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-44318-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: