Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability için kapak resmi
Reliability
Yazar 
Meyer, J. Patrick.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Oxford scholarship online http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780195380361.001.0001
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Test equating, scaling, and linking : methods and practices için kapak resmi
Test equating, scaling, and linking : methods and practices
Yazar 
Kolen, Michael J. Brennan, Robert L.
Yer Numarası 
LB3060.77 K65 2010
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Testlet Response Theory and Its Applications için kapak resmi
Testlet Response Theory and Its Applications
Yazar 
Wainer, Howard. Bradlow, Eric T.. Wang, Xiaohui.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Testlet response theory and its applications için kapak resmi
Testlet response theory and its applications
Yazar 
Wainer, Howard. Bradlow, Eric T. Wang, Xiaohui, 1969-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=194267
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The Kernel method of test equating için kapak resmi
The Kernel method of test equating
Yazar 
Davier, Alina A. von. Holland, Paul W. Thayer, Dorothy T.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=107930
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: