Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Moderne Röntgenbeugung Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker için kapak resmi
Moderne Röntgenbeugung Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
Yazar 
Spieß, Lothar. author. Teichert, Gerd. author. Schwarzer, Robert. author. Behnken, Herfried. author. Genzel, Christoph. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8349-9434-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Thin film analysis by X-ray scattering için kapak resmi
Thin film analysis by X-ray scattering
Yazar 
Birkholz, Mario. Fewster, Paul F. Genzel, Christoph. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527607595
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112599282
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: