Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
System reliability analysis : transition from binary to multi-state models için kapak resmi
System reliability analysis : transition from binary to multi-state models
Yazar 
Kumar, Akshay, editor. Ram, Mangey, editor. Gaonkar, Rajesh S. Prabhu, editor. Klochkov, Yury, editor.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003546214
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Predictive Analytics in System Reliability için kapak resmi
Predictive Analytics in System Reliability
Yazar 
Kumar, Vijay. editor. Pham, Hoang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-05347-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: