Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ion beam handbook for material analysis için kapak resmi
Ion beam handbook for material analysis
Yazar 
Mayer, James W., 1930- Rimini, E.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780124808607
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Ion implantation in semiconductors, silicon and germanium için kapak resmi
Ion implantation in semiconductors, silicon and germanium
Yazar 
Mayer, James W., 1930- Eriksson, Lennart, ort. yaz. Davies, John A., ort. yaz.
Yer Numarası 
TK 7871.85 M38 1970
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Ion implantation in semiconductors, silicon and germanium için kapak resmi
Ion implantation in semiconductors, silicon and germanium
Yazar 
Mayer, James W., 1930- Eriksson, Lennart, 1938- author. Davies, John Arthur, 1927- author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780124808508
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Laser annealing of semiconductors için kapak resmi
Laser annealing of semiconductors
Yazar 
Poate, J. M. Mayer, James W., 1930-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125588201
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Ion beam analysis : fundamentals and applications için kapak resmi
Ion beam analysis : fundamentals and applications
Yazar 
Nastasi, Michael Anthony, 1950- author. Mayer, James W., 1930- author. Wang, Yongqiang (Nuclear physicist), author.
Yer Numarası 
ONLINE(356970.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Materials analysis by ion channeling submicron crystallography için kapak resmi
Materials analysis by ion channeling submicron crystallography
Yazar 
Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- Picraux, S. T., 1943-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122526800
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Backscattering spectrometry için kapak resmi
Backscattering spectrometry
Yazar 
Chu, Wei-Kan. Mayer, James W., 1930- joint author. Nicolet, Marc-A., joint author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780121738501
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: