Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical intervals : a guide for practitioners and researchers. için kapak resmi
Statistical intervals : a guide for practitioners and researchers.
Yazar 
Meeker, William Q. Hahn, Gerald J. Escobar, Luis A.
Yer Numarası 
QA276 .H22 2017 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118594841
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Statistical methods for reliability data için kapak resmi
Statistical methods for reliability data
Yazar 
Meeker, William Q. Escobar, Luis A., ort. yaz.
Yer Numarası 
TS 173 M44 1998
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Statistical intervals a guide for practitioners için kapak resmi
Statistical intervals a guide for practitioners
Yazar 
Hahn, Gerald J. Meeker, William Q. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=695349
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10504140
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/23139974.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success. için kapak resmi
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success.
Yazar 
Doganaksoy, Necip, 1960- author. Meeker, William Q., author. Hahn, Gerald J., author.
Yer Numarası 
TS156
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003181361
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: