Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Information Security and Privacy 28th Australasian Conference, ACISP 2023, Brisbane, QLD, Australia, July 5-7, 2023, Proceedings için kapak resmi
Information Security and Privacy 28th Australasian Conference, ACISP 2023, Brisbane, QLD, Australia, July 5-7, 2023, Proceedings
Yazar 
Simpson, Leonie. editor. Rezazadeh Baee, Mir Ali. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-35486-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advances in non-volatile memory and storage technology için kapak resmi
Advances in non-volatile memory and storage technology
Yazar 
Nishi, Yoshio, editor.
Yer Numarası 
ONLINE(355702.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780857098030
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Dynamic RAM : technology advancements için kapak resmi
Dynamic RAM : technology advancements
Yazar 
Siddiqi, Muzaffer A., author.
Yer Numarası 
TK7895 .M4 S53 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Floating body cell : a novel capacitor-less DRAM cell için kapak resmi
Floating body cell : a novel capacitor-less DRAM cell
Yazar 
Ohsawa, Takashi, author. Hamamoto, Takeshi.
Yer Numarası 
TK7871.95 .O37 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Nonvolatile memory design : magnetic, resistive, and phase change için kapak resmi
Nonvolatile memory design : magnetic, resistive, and phase change
Yazar 
Li, Hai, 1975, author. Chen, Yiran, 1976-
Yer Numarası 
TK7895 .M4 L385 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns için kapak resmi
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns
Yazar 
Hamdioui, Said.
Yer Numarası 
TK7895.M4 H34 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Memory, microprocessor, and ASIC için kapak resmi
Memory, microprocessor, and ASIC
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7895 .M4 V57 2003
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Thin film magnetoresistive sensors için kapak resmi
Thin film magnetoresistive sensors
Yazar 
Tumanski, Slawomir., author.
Yer Numarası 
TK7872 .T55 T853 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: