Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy için kapak resmi
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy
Yazar 
Brydson, Rik, editor, author.
Yer Numarası 
ONLINE(318971.1)
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=693217
ebrary http://site.ebrary.com/id/10488537
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=509882
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119978848
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced computing in electron microscopy için kapak resmi
Advanced computing in electron microscopy
Yazar 
Kirkland, Earl J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=338322
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Handbook of cryo-preparation methods for electron microscopy için kapak resmi
Handbook of cryo-preparation methods for electron microscopy
Yazar 
Cavalier, Annie. Spehner, Danièle. Humbel, Bruno M.
Yer Numarası 
QH324.9 .C7 H36 2009
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367800833
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Large-angle convergent-beam electron diffraction (LACBED) : applications to crystal defects için kapak resmi
Large-angle convergent-beam electron diffraction (LACBED) : applications to crystal defects
Yazar 
Morniroli, Jean Paul, author.
Yer Numarası 
QC721 .M8625 2004 EB
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367806361
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: