Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits için kapak resmi
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
Yazar 
Goel, Sandeep K, editor of compilation. Chakrabarty, Krishnendu, editor of compilation.
Yer Numarası 
ONLINE(342881.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced calculations for defects in materials : electronic structure methods için kapak resmi
Advanced calculations for defects in materials : electronic structure methods
Yazar 
Alkauskas, Audrius.
Yer Numarası 
TA410 A379 2011
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors için kapak resmi
RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors
Yazar 
Gao, Jianjun, 1968- Knovel (Firm)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=571541
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Semiconductor material and device characterization için kapak resmi
Semiconductor material and device characterization
Yazar 
Schroder, Dieter K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5237928
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis için kapak resmi
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis
Yazar 
Magonov, Sergei N. Whangbo, Myung-Hwan. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527615117
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Principles of semiconductor network testing için kapak resmi
Principles of semiconductor network testing
Yazar 
Afshar, Amir.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Optical characterization of semiconductors infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy için kapak resmi
Optical characterization of semiconductors infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy
Yazar 
Perkowitz, S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125507707
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: