Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems Methods and Applications için kapak resmi
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems Methods and Applications
Yazar 
Shi, Guoyong. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Tlelo Cuautle, Esteban. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1103-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs için kapak resmi
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar 
Shen, Ruijing. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Yu, Hao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Symbolic Analysis and Reduction of VLSI Circuits için kapak resmi
Symbolic Analysis and Reduction of VLSI Circuits
Yazar 
Qin, Zhanhai. author. Tan, Sheldon X. D. author. Cheng, Chung-Kuan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b103124
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: