Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Solar-to-chemical conversion : photocatalytic and photoelectrochemcial processes için kapak resmi
Solar-to-chemical conversion : photocatalytic and photoelectrochemcial processes
Yazar 
Sun, Hongqi, editor.
Yer Numarası 
TJ810 .S65 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527825073
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design of 3D integrated circuits and systems için kapak resmi
Design of 3D integrated circuits and systems
Yazar 
Sharma, Rohit, editor.
Yer Numarası 
TK7874.893 .D48 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: