Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault için kapak resmi
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Yazar 
Wunderlich, Hans-Joachim. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3282-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen için kapak resmi
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen
Yazar 
Bertsche, Bernd. author. Göhner, Peter. author. Jensen, Uwe. author. Schinköthe, Wolfgang. author. Wunderlich, Hans-Joachim. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85091-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: