Başlık:
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar:
Bosio, Alberto. author.
ISBN:
9781441909381
Basım Bilgisi:
1.
Fiziksel Tanımlama:
online resource.
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 172103-2001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |