Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Eloff, Jan. author.

ISBN:

9783319613345

Basım Bilgisi:

1st ed. 2018.

Fiziksel Tanımlama:

IX, 119 p. 83 illus., 21 illus. in color. online resource.

Konu Terimleri:

Yazar Ek Girişi:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	402680-1001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta