X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
Başlık:
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar:
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- author.
ISBN:
9781315222035
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (279 pages)
İçerik:
chapter 1 Introduction -- chapter 2 Thickness Metrology -- chapter 3 Composition and Phase Metrology -- chapter 4 Strain and Stress Metrology -- chapter 5 Mosaic Metrology -- chapter 6 Interface Roughness Metrology -- chapter 7 Porosity Metrology -- chapter 8 Specular X-ray Reflectivity -- chapter 9 X-ray Diffuse Scattering -- chapter 10 Theory of XRD on Polycrystals -- chapter 11 High-Resolution XRD on Single Crystals -- chapter 12 Diffraction Imaging and Defect Mapping -- chapter 13 Modeling and Analysis -- chapter 14 Instrumentation -- chapter 15 Accuracy and Precision of X-ray Metrology.
Yazar Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
Click here to view.
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 543511-1001 TK7874.58 .B69 2006
Arıyor...

On Order