Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Goel, Sandeep K, editor of compilation.

ISBN:

9781315217819

9781351825016

9781439829424

Fiziksel Tanımlama:

1 online resource

Seri:

Devices, circuits, and systems

Devices, circuits, and systems.

İçerik:

section 1. Timing-aware ATPG -- section 2. Faster-than-at-speed -- section 3. Alternative methods -- section 4. SDD metrics.

Konu Terimleri:

Yazar Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	547467-1001	TK7871.99 .M44 T43 2014	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta