Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(25)
Wiley InterScience (Online service)
(4)
Ait-Kadi, Daoud. editor.
(1)
Ajit, Srividya. author.
(1)
Alias, Nor Aziah, 1961-
(1)
Dil
Konu
Engineering.
(21)
System safety.
(19)
Reliability (Engineering)
(11)
Computer science.
(4)
Electronic books.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
60 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Stochastic Processes with Applications to Reliability Theory için kapak resmi
Stochastic Processes with Applications to Reliability Theory
Yazar 
Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-274-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Reliability centered maintenance (RCM) implementation made simple için kapak resmi
Reliability centered maintenance (RCM) implementation made simple
Yazar 
Bloom, Neil.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems için kapak resmi
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems
Yazar 
Liu, Johan. author. Salmela, Olli. author. Sarkka, Jussi. author. Morris, James E. author. Tegehall, Per-Erik. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Hydrosystems engineering reliability assessment and risk analysis için kapak resmi
Hydrosystems engineering reliability assessment and risk analysis
Yazar 
Tung, Yeou-Koung. Yen, Ben Chie, 1935- Melching, Charles S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Reliability and Safety of Complex Technical Systems and Processes Modeling – Identification – Prediction - Optimization için kapak resmi
Reliability and Safety of Complex Technical Systems and Processes Modeling – Identification – Prediction - Optimization
Yazar 
Kołowrocki, Krzysztof. author. Soszyńska-Budny, Joanna. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-694-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections için kapak resmi
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Yazar 
Tan, Cher Ming. author. Li, Wei. author. Gan, Zhenghao. author. Hou, Yuejin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Reliability technology principles and practice of failure prevention in electronic systems için kapak resmi
Reliability technology principles and practice of failure prevention in electronic systems
Yazar 
Pascoe, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470980101
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470980101
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=41740
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods için kapak resmi
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods
Yazar 
Conference on the Theory and Applications of Reliability with Emphasis on Bayesian and Nonparametric Methods (1975 : University of South Florida) Tsokos, Chris P. Shimi, I. N. United States. Air Force. Office of Scientific Research. University of South Florida.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127021010
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures için kapak resmi
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures
Yazar 
Stanisavljević, Miloš. author. Schmid, Alexandre. author. Leblebici, Yusuf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Reliability, maintainability, and risk : practical methods for engineers için kapak resmi
Reliability, maintainability, and risk : practical methods for engineers
Yazar 
Smith, David J. (David John), 1943 June 22-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080969022
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Adhesives technology for electronic applications materials, processing, reliability için kapak resmi
Adhesives technology for electronic applications materials, processing, reliability
Yazar 
Licari, James J., 1930- Swanson, Dale W.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781437778892
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Reliability, Maintainability and Risk Practical Methods for Engineers including Reliability Centred Maintenance and Safety-Related Systems. için kapak resmi
Reliability, Maintainability and Risk Practical Methods for Engineers including Reliability Centred Maintenance and Safety-Related Systems.
Yazar 
Smith, David J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080969022
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç