Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(28)
Lienig, Jens. author.
(2)
Ahmed, Nisar. author.
(1)
Anderson, Thomas. editor.
(1)
Bailey, Brian. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
28 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
CMOS Current-Mode Circuits for Data Communications için kapak resmi
CMOS Current-Mode Circuits for Data Communications
Yazar 
Yuan, Fei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-47691-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Closing the Power Gap Between ASIC & Custom Tools and Techniques for Low Power Design için kapak resmi
Closing the Power Gap Between ASIC & Custom Tools and Techniques for Low Power Design
Yazar 
Chinnery, David. author. Keutzer, Kurt. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68953-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS için kapak resmi
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Yazar 
Chiang, Charles C. author. Kawa, Jamil. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Dynamics of Microelectromechanical Systems için kapak resmi
Dynamics of Microelectromechanical Systems
Yazar 
Lobontiu, Nicolae. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68195-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Techniques for low emission and susceptibility için kapak resmi
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Techniques for low emission and susceptibility
Yazar 
Ben Dhia, Sonia. editor. Ramdani, Mohamed. editor. Sicard, Etienne. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137864
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
A Roadmap for Formal Property Verification için kapak resmi
A Roadmap for Formal Property Verification
Yazar 
DasGupta, Pallab. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-4758-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Reuse-Based Methodologies and Tools in the Design of Analog and Mixed-Signal Integrated Circuits için kapak resmi
Reuse-Based Methodologies and Tools in the Design of Analog and Mixed-Signal Integrated Circuits
Yazar 
CASTRO-LÓPEZ, R. author. FERNÁNDEZ, F.V. author. GUERRA-VINUESA, O. author. RODRÍGUEZ-VÁZQUEZ, Á. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5139-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Layoutsynthese elektronischer Schaltungen — Grundlegende Algorithmen für die Entwurfsautomatisierung için kapak resmi
Layoutsynthese elektronischer Schaltungen — Grundlegende Algorithmen für die Entwurfsautomatisierung
Yazar 
Lienig, Jens. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-29942-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Semiconductor Modeling For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity için kapak resmi
Semiconductor Modeling For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity
Yazar 
Leventhal, Roy G. author. Green, Lynne. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b104647
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Verification Methodology Manual for SystemVerilog için kapak resmi
Verification Methodology Manual for SystemVerilog
Yazar 
Bergeron, Janick. author. Cerny, Eduard. author. Hunter, Alan. author. Nightingale, Andrew. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135575
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Leakage in Nanometer CMOS Technologies için kapak resmi
Leakage in Nanometer CMOS Technologies
Yazar 
Narendra, Siva G. author. Chandrakasan, Anantha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28133-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: