Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(22)
Drechsler, Rolf. author.
(2)
Bhushan, Manjul. author.
(1)
Bosio, Alberto. author.
(1)
Bou-Sleiman, Sleiman. author.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
22 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures için kapak resmi
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures
Yazar 
Navabi, Zainalabedin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links için kapak resmi
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Yazar 
Hong, Dongwoo. author. Cheng, Kwang-Ting. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test için kapak resmi
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test
Yazar 
Liu, Ai-Qun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date için kapak resmi
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date
Yazar 
Lauwereins, Rudy. editor. Madsen, Jan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Design of Systems on a Chip: Design and Test için kapak resmi
Design of Systems on a Chip: Design and Test
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Lubaszewski, Marcelo. editor. Jess, Jochen A.G. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32500-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems için kapak resmi
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems
Yazar 
Sonza Reorda, Matteo. editor. Peng, Zebo. editor. Violante, Massimo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-145-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: