Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
16 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar 
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- Tanner, B. K. (Brian Keith)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites için kapak resmi
Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites
Yazar 
Treacy, M. M. J. (Michael M. J.) Higgins, John B. Treacy, M. M. J. (Michael M. J.). Collection of simulated XRD powder patterns for zeolites. International Zeolite Association. Structure Commission.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444507020
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Industrial applications of X-ray diffraction için kapak resmi
Industrial applications of X-ray diffraction
Yazar 
Chung, Frank H., 1930- Smith, Deane K. (Deane Kingsley)
Yer Numarası 
TA417.25 I52 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Introduction to X-ray powder diffractometry için kapak resmi
Introduction to X-ray powder diffractometry
Yazar 
Jenkins, Ron, 1932- Snyder, R. L. (Robert L.), 1941-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/34476835.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118520994
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: