Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(115)
Reis, Ricardo. editor.
(12)
Chen, Wai-Kai, 1936-
(7)
Tripathi, Suman Lata, editor.
(4)
Einspruch, Norman G.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic circuits.
(41)
Electronic Circuits and Systems.
(30)
Electronics.
(28)
Systems engineering.
(27)
Engineering.
(25)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
234 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
229. 
The circuits and filters handbook için kapak resmi
The circuits and filters handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7867 .C4977 2003
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
230. 
Supervised and unsupervised pattern recognition : feature extraction and computational intelligence için kapak resmi
Supervised and unsupervised pattern recognition : feature extraction and computational intelligence
Yazar 
Micheli-Tzanakou, Evangelia, 1942, author.
Yer Numarası 
TK7882 .P3 M53 2000
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
231. 
Low-power CMOS design için kapak resmi
Low-power CMOS design
Yazar 
Chandrakasan, Anantha P. Brodersen, Robert W., 1945-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263696
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
232. 
Handbook of visual communications için kapak resmi
Handbook of visual communications
Yazar 
Hang, Hseuh-Ming. Woods, John W. (John William), 1943-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080918549
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
233. 
The Practice of Prolog için kapak resmi
The Practice of Prolog
Yazar 
Sterling, Leon.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267439
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
234. 
Logic testing and design for testability için kapak resmi
Logic testing and design for testability
Yazar 
Fujiwara, Hideo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç