Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Ajay, editor.
(2)
Bailey, Donald G. (Donald Graeme), 1962-
(2)
Birla, Shilpi, editor.
(2)
Luryi, Serge.
(2)
Tayal, Shubham, editor.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
TECHNOLOGY / Electronics / Microelectronics
(54)
TECHNOLOGY / Electricity
(14)
Electronic books.
(12)
TECHNOLOGY / Electronics / General
(11)
TECHNOLOGY & ENGINEERING -- Electronics -- Microelectronics.
(10)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
69 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000DEFAULT_TR
Yazdır
61. 
Design for embedded image processing on FPGAs için kapak resmi
Design for embedded image processing on FPGAs
Yazar 
Bailey, Donald G. (Donald Graeme), 1962-
Yer Numarası 
TK7895 .E42 B3264 2011 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119819820
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
62. 
Future trends in microelectronics from nanophotonics to sensors and energy için kapak resmi
Future trends in microelectronics from nanophotonics to sensors and energy
Yazar 
Luryi, Serge. Xu, Jimmy. Zaslavsky, Alexander.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5599322
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
63. 
Advanced signal integrity for high-speed digital designs için kapak resmi
Advanced signal integrity for high-speed digital designs
Yazar 
Hall, Stephen H. Heck, Howard L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361024
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
64. 
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems için kapak resmi
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems
Yazar 
Mardiguian, Michel.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361037
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
65. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
66. 
Networks-on-Chips : Theory and Practice için kapak resmi
Networks-on-Chips : Theory and Practice
Yazar 
El-Kharashi, Mohamed Watheq, editor. Elmiligi, Haytham, editor. Gebali, Fayez, editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK5105.546
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
67. 
Future trends in microelectronics up the nano creek için kapak resmi
Future trends in microelectronics up the nano creek
Yazar 
FTM-5 (2006 : Crete, Greece) Luryi, Serge. Xu, Jimmy. Zaslavsky, Alex, 1963-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201522
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
68. 
Managing power electronics VLSI and DSP-driven computer systems için kapak resmi
Managing power electronics VLSI and DSP-driven computer systems
Yazar 
Rossetti, Nazzareno, 1951-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5236490
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
69. 
The physical properties of thin metal films için kapak resmi
The physical properties of thin metal films
Yazar 
Zhigal'skii, G. P., editor. Jones, Brian K., 1938- editor.
Yer Numarası 
TN690 .Z458 2003 EB
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367801113
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç