Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(82)
Marcus, Aaron. editor.
(6)
Guarda, Teresa. editor. (orcid)0000-0002-9602-0692
(5)
Portela, Filipe. editor. (orcid)0000-0003-2181-6837
(5)
Kotzé, Paula. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computers and Society.
(45)
Computer science.
(34)
Application software.
(27)
Computer and Information Systems Applications.
(27)
Computers and civilization.
(25)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
88 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Open Source Software: Quality Verification 9th IFIP WG 2.13 International Conference, OSS 2013, Koper-Capodistria, Slovenia, June 25-28, 2013. Proceedings için kapak resmi
Open Source Software: Quality Verification 9th IFIP WG 2.13 International Conference, OSS 2013, Koper-Capodistria, Slovenia, June 25-28, 2013. Proceedings
Yazar 
Petrinja, Etiel. editor. Succi, Giancarlo. editor. Ioini, Nabil. editor. Sillitti, Alberto. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334700.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38928-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Dependability benchmarking for computer systems için kapak resmi
Dependability benchmarking for computer systems
Yazar 
Kanoun, Karama. Spainhower, Lisa.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129686
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
The project manager's guide to software engineering's best practices için kapak resmi
The project manager's guide to software engineering's best practices
Yazar 
Christensen, M. J., 1947- Thayer, Richard H.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5989224
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5989224
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Software requirements engineering için kapak resmi
Software requirements engineering
Yazar 
Thayer, Richard H. Dorfman, M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5989265
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5989265
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç