Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(112)
Agarwal, Sonali. editor.
(3)
Ekbal, Asif. editor.
(3)
Jatowt, Adam. editor.
(3)
Liu, Honghai. editor.
(3)
Dil
English
(152)
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(12)
System identification.
(11)
Systems theory.
(8)
Telecommunication.
(6)
System analysis.
(5)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
157 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
System identification için kapak resmi
System identification
Yazar 
Sage, Andrew P. Melsa, James L., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 402 S33 1971
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
System identification için kapak resmi
System identification
Yazar 
Sage, Andrew P. Melsa, James L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780126144505
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nonparametric System Identification için kapak resmi
Nonparametric System Identification
Yazar 
Greblicki, Wlodzimierz. Pawlak, Miroslaw.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
System Identification An Introduction için kapak resmi
System Identification An Introduction
Yazar 
Keesman, Karel J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-522-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Mastering system identification in 100 exercises için kapak resmi
Mastering system identification in 100 exercises
Yazar 
Schoukens, J. (Johan) Pintelon, R. (Rik) Rolain, Yves. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEEXplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6183553
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Nonlinear System Identification by Haar Wavelets için kapak resmi
Nonlinear System Identification by Haar Wavelets
Yazar 
Śliwiński, Przemysław. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333234.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29396-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
System identification a frequency domain approach için kapak resmi
System identification a frequency domain approach
Yazar 
Pintelon, R. (Rik) Schoukens, J. (Johan) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6198969
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
System Identification with Quantized Observations için kapak resmi
System Identification with Quantized Observations
Yazar 
Wang, Le Yi. author. Yin, G. George. author. Zhang, Ji-Feng. author. Zhao, Yanlong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4956-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Block-oriented Nonlinear System Identification için kapak resmi
Block-oriented Nonlinear System Identification
Yazar 
Giri, Fouad. editor. Bai, Er-Wei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84996-513-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Subspace Methods for System Identification için kapak resmi
Subspace Methods for System Identification
Yazar 
Katayama, Tohru. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-158-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
System identification : a frequency domain approach için kapak resmi
System identification : a frequency domain approach
Yazar 
Pintelon, Rik. Schoukens, Johan, ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 402 P56 2001
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
12. 
System identification a frequency domain approach için kapak resmi
System identification a frequency domain approach
Yazar 
Pintelon, R. (Rik) Schoukens, J. (Johan) John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5237512
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç