Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(369)
Wiley InterScience (Online service)
(27)
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
(9)
John Wiley & Sons.
(8)
Nakagawa, Toshio. author.
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
System safety.
(148)
Engineering.
(136)
Reliability (Engineering)
(82)
Reliability.
(75)
Industrial safety.
(64)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
729 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
121. 
Process plant equipment operation, control, and reliability için kapak resmi
Process plant equipment operation, control, and reliability
Yazar 
Holloway, Michael D., 1963- Nwaoha, Chikezie, 1984- Onyewuenyi, Oliver A., 1952-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118162569
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=822072
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118162569
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
122. 
Compressors how to achieve high reliability & availability için kapak resmi
Compressors how to achieve high reliability & availability
Yazar 
Bloch, Heinz P., 1933- Geitner, Fred K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
123. 
Lead-free solders materials reliability for electronics için kapak resmi
Lead-free solders materials reliability for electronics
Yazar 
Subramaniam, K. N., Ph. D. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
124. 
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems için kapak resmi
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems
Yazar 
Liu, Johan. author. Salmela, Olli. author. Sarkka, Jussi. author. Morris, James E. author. Tegehall, Per-Erik. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
125. 
Hydrosystems engineering reliability assessment and risk analysis için kapak resmi
Hydrosystems engineering reliability assessment and risk analysis
Yazar 
Tung, Yeou-Koung. Yen, Ben Chie, 1935- Melching, Charles S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
126. 
Reliability centered maintenance (RCM) implementation made simple için kapak resmi
Reliability centered maintenance (RCM) implementation made simple
Yazar 
Bloom, Neil.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
127. 
Symbiotic Multi-Robot Organisms Reliability, Adaptability, Evolution için kapak resmi
Symbiotic Multi-Robot Organisms Reliability, Adaptability, Evolution
Yazar 
Levi, Paul. author. Kernbach, Serge. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-11692-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
128. 
Solder Joint Reliability Prediction for Multiple Environments için kapak resmi
Solder Joint Reliability Prediction for Multiple Environments
Yazar 
Perkins, Andrew E. author. Sitaraman, Suresh K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-79394-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
129. 
VoIP handbook applications, technologies, reliability, and security için kapak resmi
VoIP handbook applications, technologies, reliability, and security
Yazar 
Ahson, Syed. Ilyas, Mohammad, 1953-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
130. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
131. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
132. 
Rules of thumb for maintenance and reliability engineers için kapak resmi
Rules of thumb for maintenance and reliability engineers
Yazar 
Smith, Ricky. Mobley, R. Keith, 1943-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750678629
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç