Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(377)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Moreno-Díaz, Roberto. editor.
(5)
Quesada-Arencibia, Alexis. editor.
(5)
Barthès, Jean-Paul A. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
2011
(67)
2010
(42)
2006
(40)
2012
(39)
2007
(38)
Konu
Engineering.
(253)
Systems engineering.
(144)
Computer science.
(118)
Engineering design.
(61)
Artificial intelligence.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
377 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
157. 
High-Level Verification Methods and Tools for Verification of System-Level Designs için kapak resmi
High-Level Verification Methods and Tools for Verification of System-Level Designs
Yazar 
Kundu, Sudipta. author. Lerner, Sorin. author. Gupta, Rajesh K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9359-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
158. 
SystemC: From the Ground Up için kapak resmi
SystemC: From the Ground Up
Yazar 
Black, David C. author. Donovan, Jack. author. Bunton, Bill. author. Keist, Anna. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69958-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
159. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
160. 
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations için kapak resmi
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Yazar 
Garg, Rajesh. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
161. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
162. 
Designing Embedded Systems with the SIGNAL Programming Language Synchronous, Reactive Specification için kapak resmi
Designing Embedded Systems with the SIGNAL Programming Language Synchronous, Reactive Specification
Yazar 
Gamatie, Abdoulaye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0941-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
163. 
Hardware Acceleration of EDA Algorithms Custom ICs, FPGAs and GPUs için kapak resmi
Hardware Acceleration of EDA Algorithms Custom ICs, FPGAs and GPUs
Yazar 
Gulati, Kanupriya. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0944-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
164. 
VLSI Design for Video Coding H.264/AVC Encoding from Standard Specification to Chip için kapak resmi
VLSI Design for Video Coding H.264/AVC Encoding from Standard Specification to Chip
Yazar 
Lin, Youn-Long Steve. author. Kao, Chao-Yang. author. Kuo, Hung-Chih. author. Chen, Jian-Wen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0959-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
165. 
ESL Models and their Application Electronic System Level Design and Verification in Practice için kapak resmi
ESL Models and their Application Electronic System Level Design and Verification in Practice
Yazar 
Bailey, Brian. author. Martin, Grant. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0965-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
166. 
Quantifying and Exploring the Gap Between FPGAs and ASICs Measuring and Exploring için kapak resmi
Quantifying and Exploring the Gap Between FPGAs and ASICs Measuring and Exploring
Yazar 
Kuon, Ian. author. Rose, Jonathan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0739-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
167. 
C Compilers for ASIPs Automatic Compiler Generation with LISA için kapak resmi
C Compilers for ASIPs Automatic Compiler Generation with LISA
Yazar 
Hohenauer, Manuel. author. Leupers, Rainer. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1176-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
168. 
Shape Interrogation for Computer Aided Design and Manufacturing için kapak resmi
Shape Interrogation for Computer Aided Design and Manufacturing
Yazar 
Patrikalakis, Nicholas M. author. Maekawa, Takashi. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04074-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç