Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(189)
Le, Tao.
(12)
Dulan, Steven W.
(10)
Advantage Education (Firm)
(9)
Graduate Record Examinations Board.
(8)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Test-taking skills.
(103)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(50)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(35)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(34)
Advanced placement programs (Education) -- Examinations -- Study guides.
(32)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
940 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
169. 
The history of alternative test methods in toxicology için kapak resmi
The history of alternative test methods in toxicology
Yazar 
Balls, Michael, 1938- editor. Combes, Robert, editor. Worth, Andrew P., editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128136973
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
170. 
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Rajaram, S. editor. Balamurugan, N.B. editor. Gracia Nirmala Rani, D. editor. Singh, Virendra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
171. 
Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approach için kapak resmi
Diagnostic Test Accuracy Studies in Dementia A Pragmatic Approach
Yazar 
Larner, A. J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-17562-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
172. 
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits için kapak resmi
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Yazar 
Jayanthy, S. author. Bhuvaneswari, M.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-2493-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
173. 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar 
Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
174. 
The Test and Launch Control Technology for Launch Vehicles için kapak resmi
The Test and Launch Control Technology for Launch Vehicles
Yazar 
Song, Zhengyu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-8712-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
175. 
Long-Life Design and Test Technology of Typical Aircraft Structures için kapak resmi
Long-Life Design and Test Technology of Typical Aircraft Structures
Yazar 
Liu, Jun. author. Yue, Zhufeng. author. Geng, Xiaoliang. author. Wen, Shifeng. author. Yan, Wuzhu. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-8399-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
176. 
The Wiley handbook of psychometric testing : a multidisciplinary reference on survey, scale and test development için kapak resmi
The Wiley handbook of psychometric testing : a multidisciplinary reference on survey, scale and test development
Yazar 
Irwing, Frederick Paul, editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
177. 
A Study Guide to the ISTQB® Foundation Level 2018 Syllabus Test Techniques and Sample Mock Exams için kapak resmi
A Study Guide to the ISTQB® Foundation Level 2018 Syllabus Test Techniques and Sample Mock Exams
Yazar 
Roman, Adam. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98740-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
178. 
Medeni usul hukuku : pratik çalışmalar, şematik açıklamalar, test soruları, sınav soruları, dilekçeler ve karar örnekleri için kapak resmi
Medeni usul hukuku : pratik çalışmalar, şematik açıklamalar, test soruları, sınav soruları, dilekçeler ve karar örnekleri
Yazar 
Pekcanıtez, Hakan. Özekes, Muhammet. Akkan, Mine.
Yer Numarası 
KKX1710 P45 2016
Format: 
Durum 
Hukuk Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
179. 
Eğitim, sağlık ve davranış bilimlerinde ölçek ve test geliştirme yapısal eşitlik modellemesi : IBM SPSS,IBM SPSS AMOS ve MINITAB uygulamalı için kapak resmi
Eğitim, sağlık ve davranış bilimlerinde ölçek ve test geliştirme yapısal eşitlik modellemesi : IBM SPSS,IBM SPSS AMOS ve MINITAB uygulamalı
Yazar 
Özdamar, Kazım
Yer Numarası 
HA29 O93 2016
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
180. 
Bilgisayar donanımı ve bileşenleri : bilgisayarın donanımsal yapısı, bileşenlerin işlevleri, test, bakım, basit onarım ve montajı, sorun giderme metodolojisi, BT kalite standartları ve dahası... için kapak resmi
Bilgisayar donanımı ve bileşenleri : bilgisayarın donanımsal yapısı, bileşenlerin işlevleri, test, bakım, basit onarım ve montajı, sorun giderme metodolojisi, BT kalite standartları ve dahası...
Yazar 
Canay, Özkan Güngörsün, Tolga, joint author
Yer Numarası 
TK7887.5 C36 2016
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç