Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(377)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Moreno-Díaz, Roberto. editor.
(5)
Quesada-Arencibia, Alexis. editor.
(5)
Barthès, Jean-Paul A. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
2011
(67)
2010
(42)
2006
(40)
2012
(39)
2007
(38)
Konu
Engineering.
(253)
Systems engineering.
(144)
Computer science.
(118)
Engineering design.
(61)
Artificial intelligence.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
377 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
181. 
OntoCAPE A Re-Usable Ontology for Chemical Process Engineering için kapak resmi
OntoCAPE A Re-Usable Ontology for Chemical Process Engineering
Yazar 
Marquardt, Wolfgang. author. Morbach, Jan. author. Wiesner, Andreas. author. Yang, Aidong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04655-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
182. 
Datenaustausch in der Anlagenplanung mit AutomationML Integration von CAEX, PLCopen XML und COLLADA için kapak resmi
Datenaustausch in der Anlagenplanung mit AutomationML Integration von CAEX, PLCopen XML und COLLADA
Yazar 
Draht, Rainer. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04674-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
183. 
Manufacturing Simulation with Plant Simulation and SimTalk Usage and Programming with Examples and Solutions için kapak resmi
Manufacturing Simulation with Plant Simulation and SimTalk Usage and Programming with Examples and Solutions
Yazar 
Bangsow, Steffen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-05074-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
184. 
Advanced Manufacturing and Sustainable Logistics 8th International Heinz Nixdorf Symposium, IHNS 2010, Paderborn, Germany, April 21-22, 2010. Proceedings için kapak resmi
Advanced Manufacturing and Sustainable Logistics 8th International Heinz Nixdorf Symposium, IHNS 2010, Paderborn, Germany, April 21-22, 2010. Proceedings
Yazar 
Dangelmaier, Wilhelm. editor. Blecken, Alexander. editor. Delius, Robin. editor. Klöpfer, Stefan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-12494-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
185. 
Quantifying and Exploring the Gap Between FPGAs and ASICs Measuring and Exploring için kapak resmi
Quantifying and Exploring the Gap Between FPGAs and ASICs Measuring and Exploring
Yazar 
Kuon, Ian. author. Rose, Jonathan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0739-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
186. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
187. 
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations için kapak resmi
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Yazar 
Garg, Rajesh. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
188. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
189. 
Designing Embedded Systems with the SIGNAL Programming Language Synchronous, Reactive Specification için kapak resmi
Designing Embedded Systems with the SIGNAL Programming Language Synchronous, Reactive Specification
Yazar 
Gamatie, Abdoulaye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0941-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
190. 
Hardware Acceleration of EDA Algorithms Custom ICs, FPGAs and GPUs için kapak resmi
Hardware Acceleration of EDA Algorithms Custom ICs, FPGAs and GPUs
Yazar 
Gulati, Kanupriya. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0944-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
191. 
On and Off-Chip Crosstalk Avoidance in VLSI Design için kapak resmi
On and Off-Chip Crosstalk Avoidance in VLSI Design
Yazar 
Duan, Chunjie. author. LaMeres, Brock J. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0947-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
192. 
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design için kapak resmi
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design
Yazar 
Jayakumar, Nikhil. author. Paul, Suganth. author. Garg, Rajesh. author. Gulati, Kanupriya. author. Khatri, Sunil P. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0950-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç