Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(116)
Anand, Sameer. editor.
(5)
Hassanien, Aboul Ella. editor.
(5)
IGI Global, publisher.
(5)
Jaiswal, Ajay. editor.
(5)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Artificial intelligence.
(96)
Computational intelligence.
(53)
Internet of things.
(40)
COMPUTERS / Machine Theory
(32)
Data mining.
(29)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
426 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Artificial intelligence and machine learning algorithms for engineering applications için kapak resmi
Artificial intelligence and machine learning algorithms for engineering applications
Yazar 
Arora, Krishan, editor. Sharma, Himanshu, editor. Mahesh, Aeidapu editor
Yer Numarası 
TA347 .A78
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003563440
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Machine learning plasmas and the neuromorphic plasma chemistry için kapak resmi
Machine learning plasmas and the neuromorphic plasma chemistry
Yazar 
Keidar, Michael, editor. Lin, Li, editor.
Yer Numarası 
QD581
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003710134
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
OPTIMIZATION METHODS FOR FINITE ELEMENT ANALYSIS AND DESIGN için kapak resmi
OPTIMIZATION METHODS FOR FINITE ELEMENT ANALYSIS AND DESIGN
Yer Numarası 
TA347 .F5
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003564911
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
DATA-DRIVEN FAULT DIAGNOSIS a machine learning approach for industrial components. için kapak resmi
DATA-DRIVEN FAULT DIAGNOSIS a machine learning approach for industrial components.
Yazar 
VASHISHTHA, GOVIND.
Yer Numarası 
Q325.5
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003614821
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Machine learning in healthcare : advances and future prospects için kapak resmi
Machine learning in healthcare : advances and future prospects
Yazar 
Malviya, Rishabha, author. Kaushik, Niranjan, author. Rai, Tamanna, author. Saraswathy, M. P., author. Awasthi, Rajendra, author.
Yer Numarası 
R858
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781779640017
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
MACHINE LEARNING IN FORENSIC EVIDENCE EXAMINATION a new era. için kapak resmi
MACHINE LEARNING IN FORENSIC EVIDENCE EXAMINATION a new era.
Yer Numarası 
HV8073
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003449164
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Emerging trends and future directions in artificial intelligence, machine learning, and internet of things innovations için kapak resmi
Emerging trends and future directions in artificial intelligence, machine learning, and internet of things innovations
Yazar 
Singh, Khumukcham Robindro, editor. Hoque, Nazrul, editor. Maji, Arnab Kumar, editor. Mondal, Sabyasachi, editor. Banerjee, Jyoti Sekhar, editor.
Yer Numarası 
Q335
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003675235
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Demystifying AI : data science and machine learning using IBM SPSS modeler için kapak resmi
Demystifying AI : data science and machine learning using IBM SPSS modeler
Yazar 
Truong, Dothang, author.
Yer Numarası 
QA76.9 .D343
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003468196
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
MACHINA SAPIENS how intelligent machines passed turing's test (and what happened the next day). için kapak resmi
MACHINA SAPIENS how intelligent machines passed turing's test (and what happened the next day).
Yazar 
Cristianini, Nello.
Yer Numarası 
Q325.5
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003582212
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Advances in intelligent systems : paradigms and applications için kapak resmi
Advances in intelligent systems : paradigms and applications
Yazar 
Guduri, Manisha, 1988- editor. V, Uma Maheswari, editor. Aluvalu, Rajanikanth, editor. Dwivedi, Amit Krishna, editor.
Yer Numarası 
R859
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003534037
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Transforming cybersecurity with machine learning için kapak resmi
Transforming cybersecurity with machine learning
Yazar 
Thakur, Kutub, author. Pathan, Al-Sakib Khan, author.
Yer Numarası 
QA76.9 .A25
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003688327
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Optimizing edge and fog computing applications with AI and metaheuristic algorithms için kapak resmi
Optimizing edge and fog computing applications with AI and metaheuristic algorithms
Yazar 
H. S., Madhusudhan, editor. Gupta, Punit, editor. Saini, Dinesh Kumar, 1974- editor.
Yer Numarası 
QA76.583
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003610168
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç