Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Electronic books.
(6)
Power electronics.
(3)
Capteurs (technologie)
(2)
ELEKTRONİK.
(2)
Electric circuits -- Periodicals.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
22 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Micromechanics and MEMS classic and seminal papers to 1990 için kapak resmi
Micromechanics and MEMS classic and seminal papers to 1990
Yazar 
Trimmer, W. Institute of Electrical and Electronics Engineers.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273520
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Electrical installation calculations için kapak resmi
Electrical installation calculations
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Electrical installation calculations için kapak resmi
Electrical installation calculations
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Detection, estimation, and modulation theory için kapak resmi
Detection, estimation, and modulation theory
Yazar 
Van Trees, Harry L.
Yer Numarası 
TK 5102.5 V3 V.3
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
17. 
Advances in imaging and electron physics. için kapak resmi
Advances in imaging and electron physics.
Yazar 
Hawkes, Peter W., ed.
Yer Numarası 
QC 793.5.E62 A3 V.127 2003
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
18. 
Engineering networks for synchronization, CCS 7, and ISDN standards, protocols, planning, and testing için kapak resmi
Engineering networks for synchronization, CCS 7, and ISDN standards, protocols, planning, and testing
Yazar 
Bhatnagar, P. K., 1948- IEEE Communications Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273657
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Semiconductor memories technology, testing, and reliability için kapak resmi
Semiconductor memories technology, testing, and reliability
Yazar 
Sharma, Ashok K. IEEE Solid-State Circuits Council.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Schaltungstechnik und Funktionsanalyse Energietechnik : Informationsband: Grundbildung und Fachbildung. için kapak resmi
Schaltungstechnik und Funktionsanalyse Energietechnik : Informationsband: Grundbildung und Fachbildung.
Yer Numarası 
TK 2181 S15 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Microwave and wireless synthesizers theory and design için kapak resmi
Microwave and wireless synthesizers theory and design
Yazar 
Rohde, Ulrich L. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471224316
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9780471520191
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Standard for use of the International System of Units (SI) : the modern metric system için kapak resmi
Standard for use of the International System of Units (SI) : the modern metric system
Yazar 
American Society for Testing and Materials.
Yer Numarası 
QC91 S82 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets