Skip to:
Search Results
|
Content
|
Bottom
|
Search Facets
Giriş
|
Kütüphane Hesabım
|
Listelerim
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
Search Limit
Tümü
E-Kitap
Dergiler
Beytepe Kütüphanesi
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi
Konservatuvar Kütüphanesi
Hukuk Kütüphanesi
Sosyal Bilimler Meslek Yüksek Okulu
DVD Koleksiyonu
Prof.Dr. Onur Bilge Kula Koleksiyonu
Rooms Restriction Values
Tüm Alanlar
Başlık
Yazar
Konu
ISBN
ISSN
13
Search Field
Tüm Alanlar
Target Value
Limit Value
Restriction Value
Arama:
Gelişmiş Arama
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
+
Konu: Atomic force microscopy.
Yazar
Dahil
Hariç
Wiley InterScience (Online service)
(3)
Taylor and Francis.
(2)
Afrin, R. (Rehana)
(1)
Aime, Jean-Pierre, editor.
(1)
Baró, Arturo M.
(1)
Bowen, W. Richard.
(1)
Castro García, Ricardo.
(1)
Dufrene, Yves, editor.
(1)
Eaton, Peter.
(1)
Haugstad, Greg, 1963-
(1)
Haugstad, Greg.
(1)
Hilal, Nidal.
(1)
Ikai, Atsushi.
(1)
International Union of Pure and Applied Chemistry.
(1)
Lorenz, W. J.
(1)
Magonov, Sergei N.
(1)
Ondarcuhu, Thierry, editor.
(1)
Plieth, W. (Waldfried)
(1)
Reifenberger, Ronald G.
(1)
Takeyasu, Kunio, 1950- editor.
(1)
West, Paul.
(1)
Whangbo, Myung-Hwan.
(1)
Yang, Hongshun.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Dil
Dahil
Hariç
English
(13)
Yayın Yılı
Dahil
Hariç
-
2012
(4)
2010
(2)
1996
(1)
1998
(1)
2008
(1)
2009
(1)
2011
(1)
2013
(1)
2014
(1)
2019
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Konu
Dahil
Hariç
Electronic books.
(2)
Nanotechnology.
(2)
Scanning tunneling microscopy.
(2)
Ultrastructure (Biology)
(2)
Amplitude modulation.
(1)
Biomechanics.
(1)
Biopolymers.
(1)
Electric insulators and insulation -- Testing.
(1)
Electrochemistry.
(1)
Fruit -- Morphology.
(1)
Interfaces (Physical sciences)
(1)
Liquid-liquid interfaces.
(1)
Liquids -- Microscopy.
(1)
Metals -- Surfaces -- Analysis.
(1)
Nanostructured materials.
(1)
Nanostructures.
(1)
Production engineering.
(1)
SCIENCE / Biotechnology.
(1)
SCIENCE / Nuclear Physics.
(1)
SCIENCE / Solid State Physics.
(1)
Scanning probe microscopy.
(1)
Semiconductors -- Testing.
(1)
Surface chemistry.
(1)
Surfaces (Physics)
(1)
Surfaces (Technology) -- Analysis.
(1)
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Material Science.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Materyal Türü
Dahil
Hariç
E-Kitap
Kitap
Shelf Location
Dahil
Hariç
Beytepe Genel Koleksiyon
CRC Ekitapları
Elektronik Kütüphane
Kütüphane
Dahil
Hariç
Beytepe Kütüphanesi
Çevrimiçi Kütüphane
false
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
13 sonuç bulundu
1
2
Sıralama:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
0
DEFAULT_TR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
One or more items could not be added because you are not logged in.
1.
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis
Yazar
Magonov, Sergei N. Whangbo, Myung-Hwan. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası
ONLINE
Elektronik Erişim
John Wiley
http://dx.doi.org/10.1002/9783527615117
Format:
Durum
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
1
2
Go to:
Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets