Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
20 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Carbon Nanotube Electronics için kapak resmi
Carbon Nanotube Electronics
Yazar 
Kong, Jing. editor. Javey, Ali. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69285-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Clocking in Modern VLSI Systems için kapak resmi
Clocking in Modern VLSI Systems
Yazar 
Xanthopoulos, Thucydides. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0261-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions için kapak resmi
SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions
Yazar 
Ganai, Malay K. author. Gupta, Aarti. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69167-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS için kapak resmi
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Yazar 
Chiang, Charles C. author. Kawa, Jamil. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Routing Congestion in VLSI Circuits: Estimation and Optimization için kapak resmi
Routing Congestion in VLSI Circuits: Estimation and Optimization
Yazar 
Saxena, Prashant. author. Shelar, Rupesh S. author. Sapatnekar, Sachin S. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-48550-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Leakage in Nanometer CMOS Technologies için kapak resmi
Leakage in Nanometer CMOS Technologies
Yazar 
Narendra, Siva G. author. Chandrakasan, Anantha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28133-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking için kapak resmi
Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking
Yazar 
Wang, Chao. author. Hachtel, Gary D. author. Somenzi, Fabio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34600-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
A Practical Introduction to PSL için kapak resmi
A Practical Introduction to PSL
Yazar 
Eisner, Cindy. author. Fisman, Dana. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-36123-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets