Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
27 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Structural analysis in theory and practice için kapak resmi
Structural analysis in theory and practice
Yazar 
Williams, Alan, 1930-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781856175500
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Kleben Grundlagen, Technologien, Anwendungen için kapak resmi
Kleben Grundlagen, Technologien, Anwendungen
Yazar 
Habenicht, Gerd. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85266-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Energy Efficient Microwave Systems Materials Processing Technologies for Avionic, Mobility and Environmental Applications için kapak resmi
Energy Efficient Microwave Systems Materials Processing Technologies for Avionic, Mobility and Environmental Applications
Yazar 
Feher, Lambert E. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-92122-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Multifunctional Metallic Hollow Sphere Structures Manufacturing, Properties and Application için kapak resmi
Multifunctional Metallic Hollow Sphere Structures Manufacturing, Properties and Application
Yazar 
Öechsner, Andreas. editor. Augustin, Christian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-00491-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Game Theoretic Risk Analysis of Security Threats için kapak resmi
Game Theoretic Risk Analysis of Security Threats
Yazar 
Bier, Vicki M. editor. Azaiez, M. Naceur. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-87767-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
The Complexity of Proceduralized Tasks için kapak resmi
The Complexity of Proceduralized Tasks
Yazar 
Park, Jinkyun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84882-791-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Intelligentized Methodology for Arc Welding Dynamical Processes için kapak resmi
Intelligentized Methodology for Arc Welding Dynamical Processes
Yazar 
Chen, Shan-Ben. author. Wu, Jing. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85642-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Manufacturing Processes 2 Grinding, Honing, Lapping için kapak resmi
Manufacturing Processes 2 Grinding, Honing, Lapping
Yazar 
Klocke, Fritz. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-92259-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Applied Machining Technology için kapak resmi
Applied Machining Technology
Yazar 
Tschätsch, Heinz. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-01007-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Silicon nanophotonics basic principles, present status and perspectives için kapak resmi
Silicon nanophotonics basic principles, present status and perspectives
Yazar 
Khriachtchev, Leonid.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Computational analysis of randomness in structural mechanics için kapak resmi
Computational analysis of randomness in structural mechanics
Yazar 
Bucher, Christian.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, Daniel. Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: