Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(30)
SAE-China. editor.
(2)
Abdelal, Gasser F. author.
(1)
Abuelfoutouh, Nader. author.
(1)
Akkaya, Yılmaz. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Systems engineering.
(14)
Electronics.
(11)
Engineering design.
(8)
Materials.
(7)
Mechanical engineering.
(5)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
33 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Role of Seismic Testing Facilities in Performance-Based Earthquake Engineering SERIES Workshop için kapak resmi
Role of Seismic Testing Facilities in Performance-Based Earthquake Engineering SERIES Workshop
Yazar 
Fardis, Michael N. editor. Rakicevic, Zoran T. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1977-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects için kapak resmi
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects
Yazar 
Grossmann, Günter. editor. Zardini, Christian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Split Hopkinson (Kolsky) Bar Design, Testing and Applications için kapak resmi
Split Hopkinson (Kolsky) Bar Design, Testing and Applications
Yazar 
Chen, Weinong. author. Song, Bo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7982-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Virtual Testing and Predictive Modeling For Fatigue and Fracture Mechanics Allowables için kapak resmi
Virtual Testing and Predictive Modeling For Fatigue and Fracture Mechanics Allowables
Yazar 
Farahmand, Bahram. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-95924-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Modern Testing Techniques for Structural Systems Dynamics and Control için kapak resmi
Modern Testing Techniques for Structural Systems Dynamics and Control
Yazar 
Bursi, Oreste S. editor. Wagg, David. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-09445-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Acoustic Emission Testing Basics for Research - Applications in Civil Engineering için kapak resmi
Acoustic Emission Testing Basics for Research - Applications in Civil Engineering
Yazar 
Grosse, Christian. editor. Ohtsu, Masayasu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69972-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Soft Errors in Modern Electronic Systems için kapak resmi
Soft Errors in Modern Electronic Systems
Yazar 
Nicolaidis, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
New Methods of Concurrent Checking için kapak resmi
New Methods of Concurrent Checking
Yazar 
Göessel, Michael. author. Ocheretny, Vitaly. author. Sogomonyan, Egor. author. Marienfeld, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8420-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting için kapak resmi
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: