Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(189)
Le, Tao.
(12)
Dulan, Steven W.
(10)
Advantage Education (Firm)
(9)
Stead, Latha G.
(7)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Test-taking skills.
(103)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(50)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(35)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(34)
Advanced placement programs (Education) -- Examinations -- Study guides.
(32)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
525 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Automatic Generation of Combinatorial Test Data için kapak resmi
Automatic Generation of Combinatorial Test Data
Yazar 
Zhang, Jian. author. Zhang, Zhiqiang. author. Ma, Feifei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-43429-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
How to Reliably Test for GMOs için kapak resmi
How to Reliably Test for GMOs
Yazar 
Žel, Jana. author. Milavec, Mojca. author. Morisset, Dany. author. Plan, Damien. author. Van den Eede, Guy. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1390-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Usability testing essentials ready, set-- test için kapak resmi
Usability testing essentials ready, set-- test
Yazar 
Barnum, Carol M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123750921
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
VMware certified professional test prep için kapak resmi
VMware certified professional test prep
Yazar 
Ilgenfritz, Merle. Ilgenfritz, John. Powell, John Wesley, 1834-1902 Baca, Steven.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Fundamentals of Pap Test Cytology için kapak resmi
Fundamentals of Pap Test Cytology
Yazar 
Hoda, Rana S. author. Hoda, Syed A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-59745-276-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Test und Verlässlichkeit von Rechnern için kapak resmi
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Yazar 
Kemnitz, Günter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Test and Analysis of Web Services için kapak resmi
Test and Analysis of Web Services
Yazar 
Baresi, Luciano. editor. Nitto, Elisabetta Di. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Linear Models for Optimal Test Design için kapak resmi
Linear Models for Optimal Test Design
Yazar 
Linden, Wim J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29054-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
The Kernel method of test equating için kapak resmi
The Kernel method of test equating
Yazar 
Davier, Alina A. von. Holland, Paul W. Thayer, Dorothy T.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=107930
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Demystifying mixed-signal test methods için kapak resmi
Demystifying mixed-signal test methods
Yazar 
Baker, Mark.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676168
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç