Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(315)
Taylor and Francis.
(21)
Le, Tao.
(12)
Dulan, Steven W.
(10)
Advantage Education (Firm)
(9)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Test-taking skills.
(103)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(50)
LANGUAGE ARTS & DISCIPLINES / Linguistics / General.
(36)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(35)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(34)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
912 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
High-Voltage Test and Measuring Techniques için kapak resmi
High-Voltage Test and Measuring Techniques
Yazar 
Hauschild, Wolfgang. author. Lemke, Eberhard. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-45352-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
How to Reliably Test for GMOs için kapak resmi
How to Reliably Test for GMOs
Yazar 
Žel, Jana. author. Milavec, Mojca. author. Morisset, Dany. author. Plan, Damien. author. Van den Eede, Guy. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1390-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Usability testing essentials ready, set-- test için kapak resmi
Usability testing essentials ready, set-- test
Yazar 
Barnum, Carol M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123750921
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VMware certified professional test prep için kapak resmi
VMware certified professional test prep
Yazar 
Ilgenfritz, Merle., author. Ilgenfritz, John. Powell, John. Baca, Steven.
Yer Numarası 
QA76.3 .I56 2009
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Fundamentals of Pap Test Cytology için kapak resmi
Fundamentals of Pap Test Cytology
Yazar 
Hoda, Rana S. author. Hoda, Syed A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-59745-276-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Test und Verlässlichkeit von Rechnern için kapak resmi
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Yazar 
Kemnitz, Günter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Test and Analysis of Web Services için kapak resmi
Test and Analysis of Web Services
Yazar 
Baresi, Luciano. editor. Nitto, Elisabetta Di. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Linear Models for Optimal Test Design için kapak resmi
Linear Models for Optimal Test Design
Yazar 
Linden, Wim J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29054-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
The Kernel method of test equating için kapak resmi
The Kernel method of test equating
Yazar 
Davier, Alina A. von. Holland, Paul W. Thayer, Dorothy T.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=107930
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Demystifying mixed-signal test methods için kapak resmi
Demystifying mixed-signal test methods
Yazar 
Baker, Mark.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676168
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç