Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
16 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests için kapak resmi
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Ahmed, Nisar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Nanoscaled Semiconductor-on-Insulator Structures and Devices için kapak resmi
Nanoscaled Semiconductor-on-Insulator Structures and Devices
Yazar 
Hall, Steve. editor. Nazarov, Alexei N. editor. Lysenko, Vladimir S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6380-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
AmIware Hardware Technology Drivers of Ambient Intelligence için kapak resmi
AmIware Hardware Technology Drivers of Ambient Intelligence
Yazar 
Mukherjee, Satyen. editor. Aarts, Ronald M. editor. Roovers, Raf. editor. Widdershoven, Frans. editor. Ouwerkerk, Martin. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4198-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: