Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(36)
Bhushan, Bharat. editor.
(10)
Fuchs, Harald. editor.
(9)
Tomitori, Masahiko. editor.
(3)
Demtröder, Wolfgang. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
36 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Very High Resolution Photoelectron Spectroscopy için kapak resmi
Very High Resolution Photoelectron Spectroscopy
Yazar 
Hüfner, Stefan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-68133-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11776314
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11785705
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging için kapak resmi
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
Yazar 
Suhir, E. editor. Lee, Y. C. editor. Wong, C. P. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32989-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Science of Microscopy için kapak resmi
Science of Microscopy
Yazar 
Hawkes, Peter W. editor. Spence, John C. H. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Yazar 
Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis için kapak resmi
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Yazar 
Alford, Terry L. author. Feldman, Leonard C. author. Mayer, James W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Applied Scanning Probe Methods III Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods III Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138285
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138289
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Surface-Enhanced Raman Scattering Physics and Applications için kapak resmi
Surface-Enhanced Raman Scattering Physics and Applications
Yazar 
Kneipp, Katrin. editor. Moskovits, Martin. editor. Kneipp, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-33567-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: