Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(14)
Gizopoulos, Dimitris. editor.
(2)
Kırbaş, Kayhan.
(2)
Adamatzky, Andrew.
(1)
Asai, Tetsuya.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Operating systems (Computers).
(14)
Engineering.
(10)
Electronics.
(9)
Ingénierie des systèmes.
(9)
Electronic books.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
30 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Big data systems : a 360-degree approach için kapak resmi
Big data systems : a 360-degree approach
Yazar 
Shamsi, Jawwad Ahmad, author. Khojaye, Muhammad AlI, author.
Yer Numarası 
QA76.9 .B45
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429155444
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Systems engineering of software-enabled systems için kapak resmi
Systems engineering of software-enabled systems
Yazar 
Fairley, R. E. (Richard E.), 1937- author.
Yer Numarası 
QA76.758
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119535041
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
The Hardware Trojan War Attacks, Myths, and Defenses için kapak resmi
The Hardware Trojan War Attacks, Myths, and Defenses
Yazar 
Bhunia, Swarup. editor. Tehranipoor, Mark M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-68511-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
System Dependability Evaluation Including S-dependency and Uncertainty Model-Driven Dependability Analyses için kapak resmi
System Dependability Evaluation Including S-dependency and Uncertainty Model-Driven Dependability Analyses
Yazar 
Kochs, Hans-Dieter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-64991-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip için kapak resmi
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Yazar 
Wang, Zheng. author. Chattopadhyay, Anupam. author. (orcid)0000-0002-8818-6983 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-1073-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Low-Power Design and Power-Aware Verification için kapak resmi
Low-Power Design and Power-Aware Verification
Yazar 
Khondkar, Progyna. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-66619-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Dependable Multicore Architectures at Nanoscale için kapak resmi
Dependable Multicore Architectures at Nanoscale
Yazar 
Ottavi, Marco. editor. Gizopoulos, Dimitris. editor. Pontarelli, Salvatore. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-54422-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects için kapak resmi
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
VLSI 2010 Annual Symposium Selected papers için kapak resmi
VLSI 2010 Annual Symposium Selected papers
Yazar 
Voros, Nikolaos. editor. Mukherjee, Amar. editor. Sklavos, Nicolas. editor. Masselos, Konstantinos. editor. Huebner, Michael. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1488-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design için kapak resmi
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
Yazar 
Cao, Yu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0445-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: